Proceedings (IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems)

SHERPA RoMEO:
Ikke i SR
Sist oppdatert: 2016-07-15

 
Internasjonal tittel: Proceedings (IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems)
Print ISSN: 1550-5774
ITAR-kode: 1006447
Land: USA
Forlag: IEEE Press
NPI Fagfelt: Elektronikk og kybernetikk
Fagfellevurdering: Fagfellevurdert
Forfatterkrets: Internasjonal

Nivåplassering for tidligere år, samt innrapporterte publiseringspoeng fra UH-sektoren

År Nivå Forfatterandeler Publiseringspoeng
2018 1 - -
2017 1 - -
2016 1 0.0 0.0
2015 1 0.0 0.0
2014 1 0.0 0.0
2013 1 0.0 0.0
2012 1 0.0 0.0
2011 1 0.0 0.0
2010 1 0.0 0.0
2009 1 0.0 0.0
2008 1 0.0 0.0
2007 1 0.0 0.0

Logg inn for å kommentere