NO EN Logg inn

Memory Technology, Design, and Testing

Grunnleggende informasjon

Internasjonal tittel:

Memory Technology, Design, and Testing

p-ISSN:

1087-4852         Periode: [1994 .. ]

Utgiverland:

USA

URL:

http://larc.ee.nthu.edu.tw/~mtdt06/

Forlag:

IEEE conference proceedings

ITAR-kode:

1003551

NPI Fagfelt:

Elektronikk og kybernetikk
Kriterier

❌ Uregistrert redaksjon

✅ Fagfellevurdert

✅ Nasjonal eller internasjonal forfatterkrets

❌ Uregistrert om bekreftet ISSN

Åpen tilgang
❌ Ikke indeksert i DOAJ - Sist oppdatert  2021-04-14
❌ Ikke indeksert av Sherpa Romeo - Sist oppdatert  2021-04-14
Plan S: Journal Checker Tool [+]
Nivåplasseringer og UH-sektorens publiseringspoeng
År Nivå Forfatterandeler Publiseringspoeng
2021 1
2020 1
2019 1 0.0 0.0
2018 1 0.0 0.0
2017 1 0.0 0.0
2016 1 0.0 0.0
2015 1 0.0 0.0
2014 1 0.0 0.0
2013 1 0.0 0.0
2012 1 0.0 0.0
2011 1 0.0 0.0
2010 1 0.0 0.0
2009 1 0.0 0.0
2008 1 0.0 0.0
2007 1 0.0 0.0
2006 1 0.0 0.0
2005 1 0.0 0.0
Offentliggjøres i mai året etter

Logg inn for å kommentere

Register over vitenskapelige publiseringskanaler innhenter opplysninger fra andre informasjonskilder og registre for å berike informasjonen. Vi ønsker å holde registeret oppdatert med så riktige data som mulig, men vi frasier oss alt ansvar dersom man finner at oppgitte informasjonen fra andre kilder er feil eller utdatert.